三目正置金相显微镜WYJ-53XA配置了立杆式的机架和移动工作台,显微镜主体可大范围升降和360°旋转。尤其适合于观察有一定高度的大工件试样,也适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,材料表面的某些特征(划痕、裂纹、喷涂的均匀性),化学颗粒等方面的研究。总放大倍数:50X-625X
◆性能特点:
1、配置了立杆式的机架,适合于观察有一定高度的大工件试样。
2、采用了优质的光学系统设计,视野宽阔,视场平坦,成像清晰。
3、配置了带偏光装置落射照明系统,适合观察高反光材料表面。
4、两路光路自由切换输出,一路用于观察,一路连接摄像装置。
◆典型应用:
1、分析金属、矿相结构组织。
2、电子厂PCB板、芯片检验。
3、观察材料表面的某些特性, 如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性。